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AR/VR硬件最關鍵的技術以及難點是光學技術和顯示技術。光學方面,VR目前最主要的應用方案是菲涅爾透鏡,為獲得更輕薄的效果和更佳的視覺體驗,過去一年發布的VR設備中,短焦模組(Pancake折疊光路)成為品牌的優選方案;AR光學模組主要有棱鏡、自由曲面、Birdbath和光波導,工業級設備更青睞自由曲面和棱鏡,光波導被認為是實現消費級AR設備的關鍵技術。顯示方面,目前應用最多的是LCD顯示屏,Micro LED和Micro OLED或是下一步應用熱點。

精測電子ARVR顯示檢測技術解決方案
(此圖片來自網絡)
Pancake又稱短焦距光學系統,它是對于一種折疊式光路的描述,因其外觀鏡頭軸向較短,呈扁平外觀,所以業內常稱之為“Pancake”(煎薄餅)。Pancake具有體積小、重量輕、畫質佳的優點,因而逐步成為VR頭顯設備的最優選方案。

精測電子ARVR顯示檢測技術解決方案

精測電子緊跟行業步伐,依托集團顯示面板檢測行業光學鏡頭、信號驅動和精準運動單元三大測試技術模塊多年的技術積累,開發出一整套VR/AR自動化模組檢測方案,全面提升產品良率,為客戶創造價值。Pancake光學模組帶來的超廣視場角,為使用者帶來極致體驗的同時,也對產品質量檢測提出的全新的要求,精測電子敏銳捕捉這一技術難題,推出JI-NED系列NED近眼顯示測量技術解決方案,自主研發設計超廣角鏡頭,利用鏡頭入瞳位置控制及125°超大視場角,更好的模擬人眼對近眼顯示設備的實際感知,為終端產品測試及質量管理提供重要依據。

精測電子ARVR顯示檢測技術解決方案

同時,針對Pancake 光學模組蓋板異物的問題,精測電子依托完整的光學檢測方案,在檢測面板畫質的同時,檢測顯示屏(Micro Led、Micro OLED、LCD、Lcos)蓋板上的毛刺、臟污及異物;并利用公司自研AI人工智能算法架構對視覺中心區與邊緣區缺陷進行區分和分類。精測電子推出的NED近眼顯示測量技術解決方案采用的變焦鏡頭焦距可覆蓋Pancake光學模組所有層鏡片,搭配自動對焦功能,可有效解決Pancake光學模組層光學鏡片異物分層的問題。
在NED近眼顯示測量技術解決方案的基礎之上,為了實現更為精密的顯示效果管理,精測電子將NED近眼顯示測量技術解決方案與自動化機構裝置相結合,推出AR/VR近眼顯示AOI設備,在靜態測量的基礎上,實現對被檢物的動態檢測。搭配精測電子自研的面陣色度計、NED鏡頭以及信號驅動PG等,此面陣成像式色度計產品具有成像自動調節、高精度、高速率和智能硬件架構等多重優點,可用于LCD、OLED、Mini-LED、Micro-LED等亮度和色度的像素級高精度測量,同時可搭載自研光學測量軟件,實現對于MTF、FOV、色偏、色度和亮度等光學性能的精密測量。
精測面陣成像式色度計

精測電子ARVR顯示檢測技術解決方案

精測信號驅動PG

精測電子ARVR顯示檢測技術解決方案

同時,精測電子推出Micro LED/OLED 微顯示器模組 AOI,可根據客戶需求定制化搭配NED鏡頭、高精度光譜儀、成像式亮度計、色彩分析儀、成像式色度計等自研色彩儀器以實現對被測物更為精密的亮色度測量;并利用多工位結構,實現多款被測物同時檢測,滿足Inline、Offline不同檢測需求。
精測電子ARVR顯示檢測技術解決方案
精測電子自2006年成立以來,立足顯示檢測領域,堅定以檢測設備為核心,圍繞良率管理持續精進,經過多年發展,在顯示、半導體、新能源檢測領域擁有了豐富的技術積累;目前,精測電子推出的AR/VR近眼顯示AOI及Micro LED/OLED 微顯示器模組 AOI方案均已在生產現場實際應用,并已獲得國內外知名客戶認證下單。
未來,精測電子將繼續推動方案迭代升級,實現VR/AR終端產品組裝前后雙重檢測,實現全制程解決方案,為客戶創造更多的價值,為科技進步貢獻精測力量。
來源:精測電子

原文始發于微信公眾號(艾邦VR產業資訊):精測電子ARVR顯示檢測技術解決方案

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作者 li, meiyong

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