企業介紹

賽默飛創新的電子顯微鏡、表面分析和微分析解決方案幫助材料科學研究人員推進樣品表征，以便從宏觀尺度到納米級更深入地了解材料的物理和化學特性。賽默飛的多尺度、多模式解決方案涵蓋了幾十個行業和研究領域的多種應用，服務于學術界、政府和工業界的廣大客戶。賽默飛的透射電鏡、DualBeam? 聚焦離子束掃描電鏡、全系列掃描電鏡、X射線光電子能譜儀 (XPS)、微分析解決方案以及軟件套件，通過將高分辨率成像與多尺度、多模式的物理、化學、元素、力學和電性分析相結合，將客戶的疑問轉化為可用的數據。

? 主要產品 ?

Iliad?是一款完全集成的分析型（掃描）透射電鏡，其配備了全新的 IliadTM 電子能量損失譜儀 (EELS) 和能量過濾器，專用的 Zebra 電子能量損失譜 (EELS) 探測器，全新的 NanoPulser 超快靜電束閘，并且還可以集成使用 Dual-X、 Super-X? 或Ultra-X EDX探測器。Iliad??(S)TEM以前所未有的硬件和軟件集成，以及對儀器設計的前瞻性方法，開啟了球差校正電鏡新篇章。

2. ?集成能譜場發射掃描電鏡Apreo ChemiSEM

Thermo Scientic? Apreo? ChemiSEM? 掃描電鏡系統集成了獨特的 Thermo Scientific? Trinity? 鏡筒內探測系統與Thermo Scientific? ChemiSEM? 技術，使得高分辨形貌觀察與元素分析功能整合在同一個軟件平臺，提供了一個無縫銜接的簡化工作流程，可以滿足高通量、快節奏的實驗室需求，并且可對各種樣品進行高效、可靠的分析。

隨著分析技術的發展，對材料的表面信息以及界面間相互作用的研究至關重要。XPS 的極其表面敏感性，可分析表征材料表面0到10nm 之間的元素組成及化學態信息，可檢測從 Li 到 U 范圍內的元素，不僅被廣泛地應用于化學分析、材料開發應用研究、物理理論探討等學術領域，還被越來越多地應用于納米功能材料開發、玻璃涂層、半導體器件、鍍膜材料工藝評估諸多工業領域。