6月5日,納科科技有限公司段建林總經(jīng)理將作為演講嘉賓出席“第二屆高端電子MLCC、LTCC產(chǎn)業(yè)高峰論壇”,演講議題為“MLCC產(chǎn)品失效分析和檢測(cè)手段”。歡迎大家前來交流分享。

納科科技有限公司 總經(jīng)理 段建林
段建林,1991年就讀于西安交通大學(xué)機(jī)械制造自動(dòng)化專業(yè)。畢業(yè)后第一份工作是東莞臺(tái)達(dá)電子有限公司,從事SMT自動(dòng)化車間管理。1999年來到深圳,從事SMT設(shè)備銷售工作,經(jīng)過多年的經(jīng)驗(yàn)積累和市場(chǎng)拓展,2007年創(chuàng)建香港納科科技有限公司,從事半導(dǎo)體封裝和元器件無損檢測(cè)設(shè)備的代理,到目前已經(jīng)有超過15年的半導(dǎo)體封裝和電子元器件檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)。
納科科技有限公司專業(yè)提供電子產(chǎn)品檢測(cè)、失效分析和可靠性解決方案,在深圳、上海、蘇州、武漢、成都、西安設(shè)立銷售和服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)。以滿足客戶的需求為己任,為客戶提供世界知名品牌的失效分析和可靠性設(shè)備,力爭(zhēng)成為中國(guó)客戶公認(rèn)的半導(dǎo)體封裝檢測(cè)服務(wù)供應(yīng)商。
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原文始發(fā)于微信公眾號(hào)(艾邦陶瓷展):納科科技將出席“第二屆高端電子MLCC、LTCC產(chǎn)業(yè)高峰論壇”,并做MLCC產(chǎn)品失效分析和檢測(cè)手段的主題演講