現代制造業生產工藝自動化程度不斷提高，對產品外觀、尺寸、質量及性能等要求日益嚴格，工件表面瑕疵不但影響其外在“顏值”，更惡劣的是影響工件的使用性能，使產品的安全性降低，在出廠前剔除這些瑕疵勢在必行。目前國內大部分廠家采用傳統的人工肉眼目測法檢測，這種傳統方法在自動化程度日益提高的今天就顯得笨拙了：抽檢率低，檢測速度慢，檢測結果易受檢測人員主觀因素影響，缺乏統一標準和科學的指導，已經無法滿足高速、高精度、實時的自動化生產要求。
同時，現代企業用工成本日益增加，以及機器視覺像素日益提高，越來越多的企業開始使用自動化的表面瑕疵檢測系統，以尋求降低成本的同時實現生產過程中的自動檢測、報警、記錄、統計、挑選、標記等功能。但是，在選用傳統機器視覺方式進行瑕疵檢測時，我們發現其對高光物體表面和透明物體表面進行檢測時，遭遇了“蜀道難, 難于上青天”的困難。
高光產品表面屬于鏡面反光，工件本身平整度高，且易粘黏油污、手印等，由于材質表面光潔度很高，已經形成一個高光鏡面，即使在很弱的光源狀態下，表面的反光也會有非常強的對比度，這種對比度會把其表面本身的雜質、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋，使傳統機器視覺拍照無法檢測出零件表面的缺陷。同時，由于材質表面已經形成一個鏡面，一般的光學鏡頭和視覺光源的燈珠等都會在材質表面形成倒影，這個倒影會成像于最后的檢測畫面上，嚴重影響材質表面的成像效果，造成檢測無法進行。
對于透明類產品表面的缺陷檢測，使用一般光學系統進行正面打光時，大部分光經過玻璃透射后有極少光線反射回鏡頭，導致不明顯缺陷無法在傳統的機器視覺中進行顯現。同時，使用一般光學系統進行透射打光時，遇到缺陷會形成多層漫反射，也導致不明顯的缺陷無法顯現。
在此背景下，25年來一直潛心鉆研于技術創新的法國STIL品牌獨創的光譜共焦技術應運而生，此技術結合線陣相機，形成了MC2視覺檢測系統，完美地解決了傳統機器視覺在表面瑕疵檢測的困難，具有明顯的優勢：
無需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測所需的同軸光源；
環境光線的變化不影響成像效果，適應性強；
適應所有的物體表面，無論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面；
高達80KHz的掃描速度，并可實現非常低的像素尺寸(最小像素可達0.2×0.2μm2)；
最高可至2.6mm的高景深，在景深范圍內的任何一個位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無需進行Z軸對焦。
STIL MC2動態視覺顯微鏡 之實驗室情景
MC2動態視覺檢測案例
復合材料之比較：
傳統視覺顯微鏡 STIL MC2視覺成像
電子元件的比較：
傳統視覺顯微鏡 STIL MC2視覺成像
最小的缺陷清晰可見：
手機屏幕玻璃邊緣的檢測：
玻璃表面的微小劃傷：
印刷電路板(PCB)的生產缺陷：
半導體 晶片邊緣的生產缺陷：
案例具體數據--1mm玻璃邊緣檢測數據與成像：
微構件(手表機械裝置)檢測數據：
手表微構件的拋光缺陷檢測數據：
未來工廠：零缺陷的微觀分辨率贏得生產線
“未來工廠”要求，靈活性和競爭力要求實施控制手段和測量手段，以便能夠在生產中及早發現異常情況。在如今所及范圍的最新發展，使得識別微觀缺陷成為可能。這些高分辨率測量的衍生物是大數據的生成，這需要實施人工智能軟件。
來自于羅蘭貝格管理咨詢的扇形圖，闡述了未來工廠中數字化生產情景：在產品及工藝設計、管理與把控、生產制造、數據集成與維護、工作組織等5個方面，將未來工廠的彩色傳感器生產劃分為成熟度可用(廣泛傳播)、新興潛在成熟(有限擴散)、在未來成熟等三個階段。
高分辨率圖像的生成，需要使用強大的計算手段來識別缺陷。使用人工智能實施最新技術的軟件(深度學習軟件和計算機在線瑕疵展示軟件)，使得這項任務更加可靠和簡單。
測量晶圓時，MC2的動態視覺場景，成像清晰且規則：
法國STIL創始于1993年，迄今為止為全球各行企業提供高性能的光譜共焦位移傳感器已超過25年。司逖測量技術(上海)有限公司是法國STIL公司在中國的銷售公司。我們在華東及華南分別設有總公司及辦事處，均處于交通便捷、物流發達之地，以便更好地為中國客戶提供優質的售前售后服務！
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