陶瓷封裝在IC產(chǎn)業(yè)鏈中的主要應(yīng)用是為IC設(shè)計(jì)電路功能及其版圖驗(yàn)證、設(shè)計(jì)方案優(yōu)選和可靠性分析提供快速的驗(yàn)證服務(wù)。

現(xiàn)代IC產(chǎn)業(yè)鏈結(jié)構(gòu)
隨著晶圓(芯片)生產(chǎn)線投資上升、規(guī)模增大,其風(fēng)險(xiǎn)也增大,怎樣才能保持生產(chǎn)線的加工能力和技術(shù)質(zhì)量控制水平不斷提高是其重要任務(wù),而陶瓷封裝為其提供了很好的手段。晶圓制造的其他評價(jià)(如柵、互連通孔等)均可利用陶瓷封裝來進(jìn)行,而塑料封裝因不耐高溫和試驗(yàn)后還需精心去表面的包裹物,其費(fèi)用也很高,陶瓷封裝的優(yōu)勢即刻體現(xiàn)出來。
芯片設(shè)計(jì)公司對其多目標(biāo)的IC需進(jìn)行快速封裝,其封裝能在不需繁雜的專業(yè)處理即可直接分析,甚至提供用戶進(jìn)行試用評價(jià),在目前高可靠的封裝方面其首選是陶瓷封裝。
陶瓷封裝具有縮短IC電路測試分析的周期、承受高溫、便于電路流片后功能異常等分析優(yōu)點(diǎn)。
對IC芯片局部存在某特定的問題時(shí),有時(shí)又不可能肯定問題所在,如重新制版流片,不僅費(fèi)用高而且周期長,這時(shí)最好的方式是將有疑問地方的鈍化層局部剖開,切斷互連線或重新連線用探針測試分析線路等,使問題在最快、最低的成本內(nèi)尋找到,采用陶瓷封裝可為尋找問題提供方便。
二、IC產(chǎn)業(yè)鏈中的陶瓷封裝工藝流程
陶瓷封裝的主要流程包括減薄、劃片、X-RAY無損檢查、芯片強(qiáng)度抗拉/剪強(qiáng)度測試、等離子清洗、引線鍵合、鍵合檢查、封帽前內(nèi)部檢查、氣密性檢查、X-RAY無損檢查、成型、外觀檢查等。具體的細(xì)節(jié)流程請查看下圖:

目前,陶瓷封裝的主要形式有陶瓷雙列直插封裝CDIP、陶瓷針柵陣列CPGA、玻璃熔封(CerDIP,已逐漸被陶瓷雙列直插封裝取代而不常使用,因其封裝過程中需電鍍,使工序加工時(shí)間延長)、陶瓷無引線載體CLCC、陶瓷四方扁平CQFP、陶瓷四邊無引線外殼CQFN、陶瓷扁平CFP等。
在IC產(chǎn)業(yè)鏈中陶瓷封裝單位僅提供陶瓷封裝服務(wù)是不夠的,還需有配套的其他技術(shù)服務(wù):如可封裝結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、封裝工藝及可靠性設(shè)計(jì)、封裝相關(guān)的可靠性試驗(yàn)、封裝失效分析、封裝可靠性增長、封裝可行性評價(jià)等。
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