2005年，Swanson等首次報道了美國SunPower公司生產的n型IBC光伏組件在戶外使用過程中出現顯著的輸出功率衰減是由高電勢引起的，之后行業內和學術界對光伏組件的電勢誘導衰減(PID)現象給予了高度重視。

近年來，隨著p型PERC雙面光伏組件市場份額的逐步擴大，越來越多的研究聚焦于該類光伏組件的PID機理方面。

研究者普遍認為p型PERC雙面光伏組件在電勢誘導下會存在2種PID機理：

1)因光伏組件的正面發射極存在分流而引起的輸出功率衰減(即PID-s)。光伏用鈉鈣玻璃中的正離子(主要是Na⁺)作為雜質粒子在電勢誘導下可以穿過封裝材料進入p型太陽電池的正面發射極，造成其局部分流，從而引起PID-s。

2)因光伏組件背面的減反射/鈍化層極化引起的輸出功率衰減(即PID-p)。PID-p最先被美國SunPower公司發現，其認為，低電導率的減反射/鈍化層妨礙了漏電流的自由流動，從而導致電荷在減反射/鈍化層累積，然后會吸引少數載流子到達太陽電池表面，從而導致表面復合的增加，最終造成光伏組件輸出功率衰減。

有研究認為，來自雙面雙玻光伏組件背面玻璃和太陽電池鈍化層的雜質正離子，比如Na+，在電勢驅使下進入AlOx/SiNx鈍化層后破壞了AlOx層的場鈍化效應；而且隨著越來越多的正離子(比如Na+)在AlOx/SiNx鈍化層堆積，會造成太陽電池表面復合增加，從而進一步促使光伏組件輸出功率衰減。

p型PERC雙面光伏組件的PID機理如圖1所示。

圖1 p型PERC雙面光伏組件的PID機理

雖然光伏組件在實際使用過程中會同時受到光伏發電系統電壓、工作溫度、環境濕度和光照的影響，但行業內對晶體硅光伏組件的PID測試一般都是參考IECTS62804-1:2015，即在高溫高濕環境箱中以在光伏組件兩端施加高電壓的方式進行測試，并未考慮光照對PID的影響。

而學術界一直都有關于光照對光伏組件PID影響的研究，比如：

• 紫外光(波長為315~400nm，輻照度為5W/m2)可以阻止或減緩PID-s和PID-p的進程；

• 2類晶體硅光伏組件的PID-p對光照的響應大不相同。

因此，忽視光照對PID的影響會導致在實際應用過程中對光伏組件的PID表現做出錯誤的預判和解讀。

因此，IEC61215:2021系列標準中不僅合并了IECTS62804-1:2015中的PID測試序列，還增加了對光伏組件進行光照恢復處理的測試環節，即PID測試之后可選擇進行光照恢復測試(環境箱溫度為40℃，使用CCC級或以上級別的光源、輻照量為2kWh/m2)。

但針對PID測試，IEC61215:2021系列標準中的測試序列與文獻中所用的PID測試與光照恢復處理同步進行的測試方法不同。

由于工業界針對緩解PID-s的措施已較為成熟，比如：適當提高SiNx層的折射率，增加SiO2層。并且因為不同于以往光伏組件的全鋁背場，鋁柵線的背鈍化工藝使p型PERC雙面太陽電池的背面對PID更為敏感。

因此，目前針對p型PERC雙面光伏組件PID的研究熱點大部分聚焦在其背面。

基于此，本文采用IEC61215:2021系列標準中包含了光照恢復測試的測試序列，探討光照恢復處理對采用不同封裝材料的p型PERC雙面光伏組件背面PID的影響。

不同測試溫度(25、60、85C)下EVA膠膜和POE膠膜的體積電阻率測試結果如圖2所示。

圖2 不同測試溫度下POE膠膜和

EVA膠膜的體積電阻率測試結果

由圖2可知，隨著測試溫度的升高，EVA膠膜的體積電阻率下降非常迅速，測試溫度為85C時其體積電阻率已降至1013Ω?cm左右，而此溫度下POE膠膜的體積電阻率還保持在1015Ω?cm以上。

這是因為POE膠膜的原料為ENGAGE?PVPOE，使其體積電阻率比EVA膠膜的高出1~2個數量級。這2種膠膜的體積電阻率差異可反映采用二者作為封裝材料時光伏組件的抗PID性能存在的差異。

將太陽電池A和太陽電池B分別由EVA膠膜和POE膠膜封裝后制成光伏組件，測試光伏組件初始狀態時的輸出功率，然后測試并計算得到PID測試96h后及光照恢復處理后光伏組件的輸出功率衰減率，結果如圖3所示。

圖3 PID測試96h后和光照恢復處理后

光伏組件的輸出功率衰減率

從圖3可以看出，在PID測試96h后，所有由POE膠膜封裝的光伏組件的輸出功率衰減率均較低，相對而言，所有由EVA膠膜封裝的光伏組件的輸出功率衰減率均較高。

這種因封裝材料不同而引起的光伏組件背面抗PID性能差異可以結合圖1的PID機理及圖4的分壓器模型來解釋。

圖4 模擬光伏組件的分壓器模型

圖中：Rp、Rg、RSiNx分別為膠膜、玻璃、SiNx層的電阻；ρg、ρp、ρSiNx分別為玻璃、膠膜和SiNx層的體積電阻率；VSiNx為SiNx層的電壓。

簡單來說，圖4的分壓器模型是把光伏組件漏電流的通道看成了3個歐姆電阻器串聯，這3個歐姆電阻器分別代表玻璃、膠膜和SiNx層。根據圖1的PID機理，VSiNx是推動PID進程的重要驅動力，而降低VSiNx就可以有效降低光伏組件的PID風險。

分壓器模型的分壓計算公式可表示為：

式中：Vext為分壓器的總電壓。

由于體積電阻率與電阻呈正相關，因此，結合式(2)可知，提高ρp有助于提高Rp，從而有效降低VSiNx。

盡管圖3中在PID測試96h后由EVA膠膜封裝的光伏組件的輸出功率衰減明顯，但是經過光照恢復處理后，光伏組件的輸出功率得到了恢復，并且光源功率為1000W時的輸出功率恢復效果比光源功率為300W時的更佳。

這是因為光伏組件被認為可在光照和偏壓共同作用下恢復其輸出功率。也有關于光照和偏壓共同作用對PID-p影響的研究。

有公司認為，紫外光可以離子化SiNx層的電子，并有效導出在該層累積的電荷，從而降低SiNx層分壓。

實驗發現：對于p型PERC雙面太陽電池而言，較低的輻照量就可有效阻止PID-p；并且高能光子可以激發產生移動載流子，載流子可以中和減反射/鈍化層累積的電荷，從而有效降低PID-p。

的PID-p的光照恢復機理如圖5所示。

圖5 p型PERC雙面光伏組件的PID-p光照恢復機理

雖然PID測試96h是IEC標準中推薦的測試時長，但為了進一步驗證和保障光伏組件的長期可靠性，工業界一般使用加嚴測試，即PID測試時的測試時長取192h或288h，更有甚者會取1000h。

本文對太陽電池A和太陽電池B分別與EVA膠膜和POE膠膜封裝后制成的光伏組件也進行了192、288h的PID測試，然后進行了光照恢復處理。以光伏組件初始狀態時的輸出功率為基準，分別測試并計算得到PID測試192、288h后及不同光源功率下光照恢復處理后光伏組件的輸出功率衰減率，具體如圖6所示。

圖6 不同PID測試時長及不同光源功率下

光照恢復處理后光伏組件的輸出功率衰減率

對比圖3和圖6可以發現，隨著PID測試時長的增加，采用POE膠膜的光伏組件的輸出功率衰減率變化不大(小于2%)，而采用EVA膠膜的光伏組件的輸出功率衰減率變化明顯。

不同于圖3中的結果，圖6中PID測試192、288h后，采用EVA膠膜的光伏組件背面在經過光照恢復處理后，光伏組件的輸出功率恢復情況明顯變差，尤其是PID測試288h后，即便經過光照恢復處理，采用EVA膠膜的光伏組件的輸出功率衰減率也都超過了8%。

另外還可以看出，采用同種膠膜、不同太陽電池制成的光伏組件的抗PID性能也稍有差別，這應該是與太陽電池鈍化層的成分和工藝不同有關。

一些研究者通過分析圖5的PID-p光照恢復機理后認為：p型PERC雙面光伏組件背面的PID現象完全可以由光照恢復處理來恢復。

但從圖6中采用EVA膠膜的p型PERC雙面光伏組件背面在進行光照恢復處理后光伏組件的輸出功率衰減率恢復情況來看，其背面除發生了PID-p之外，應該還存在其他的PID機理。

有些研究者報道過電化學腐蝕導致的光伏組件輸出功率衰減(即PID-c)。此種衰減是由太陽電池鈍化層下面硅基體的電化學腐蝕引起的衰減。

電化學腐蝕在很多場景下均被發現過，關于其成因，有些學者認為是在光伏組件的生產和應用過程中存在有害的或腐蝕性的副產物，特別是酸性物質(比如EVA膠膜降解產生的醋酸，或背板里粘結層中的丙烯酸、馬來酸)等引起的腐蝕。

這些腐蝕性化學成分可以與太陽電池上的金屬柵線和電極發生反應，從而導致光伏組件出現永久性的輸出功率衰減。而電勢誘導不僅可以在酸濃度非常低的條件下觸發電化學腐蝕，而且可以加速電化學腐蝕進程。

也有學者認為光伏組件中的陽離子雜質可以在電勢下穿過封裝膠膜，在Si/AlOx間形成氧化層，從而導致太陽電池產生鈍化缺陷，引起不可逆的光伏組件輸出功率衰減。

PID-p和PID-c也會對光伏組件的I-V特性產生影響。有研究表明PID-p一般會導致光伏組件的短路電流Isc和開路電壓Voc降低，而填充因子FF只會受到很小的影響；研究結果還指出，對于大尺寸光伏組件，FF的降低通常是由同塊光伏組件上不同太陽電池的失配引起的。

將太陽電池A和太陽電池B均采用EVA膠膜封裝制成2種光伏組件后，對這2種光伏組件在PID測試96、192h后進行光照恢復處理(光源功率為1000W)，然后測試2種光伏組件的I-V曲線，具體如圖7所示。

圖7 不同PID測試時長及光照恢復處理后

2種光伏組件的I-V曲線

從圖7中可以看出，相較于初始狀態，PID測試96h后，所有采用EVA膠膜的光伏組件的Isc和Voc均有一定程度的下降，但是FF最高僅下降了0.62%，基本不受影響；而在光照恢復處理后，Isc和Voc均得到了恢復；PID測試96h后的光伏組件再進行光照恢復處理后的I-V曲線特性符合PID-p的特征。

然而，當PID測試時間延長到192h后，FF最高降低了4.54%，下降明顯，而且在后續的光照恢復處理后也未完全恢復，從圖7b中可以明顯分辨出I-V曲線的可恢復和不可恢復部分。

一般來說，FF的降低都與太陽電池上的金屬化部分，比如焊帶、柵線等的腐蝕有關。

PID測試192h后FF出現了明顯下降，其降低意味著隨著PID測試時間的延長，PID-c逐漸開始在光伏組件輸出功率衰減中表現得越來越突出，且由PID-c引起的光伏組件輸出功率衰減是永久性且不可恢復的。

將太陽電池A分別采用EVA膠膜和POE膠膜封裝制成2種光伏組件，然后測試2種光伏組件在不同測試階段的EL圖像，測試結果如表1所示。

表1 2種光伏組件在不同測試階段的EL圖像

從表1中可以看出，在PID測試192h后，采用EVA膠膜的光伏組件的EL圖像不僅整體變暗，而且出現了腐蝕性的黑色色斑。在光照恢復處理后，由于PID-p得到了恢復，光伏組件的亮度得到了提高，但黑斑仍然存在，這也證實了腐蝕類缺陷造成的PID-c具有不可逆性。