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近日,國際半導體產業協會(SEMI)正式發布了碳化硅半導體外延晶片全球首個SEMI國際標準——《4H-SiC同質外延片標準》(Specification for 4H-SiC Homoepitaxial Wafer)。此標準由瀚天天成電子科技(廈門)股份有限公司主導編寫,由中國科學院半導體研究所株洲中車時代電氣股份有限公司Wolfspeed等十二家單位參與編寫,歷時近三年時間。

全球首個碳化硅半導體外延晶片SEMI國際標準正式發布

全球首個碳化硅半導體外延晶片SEMI國際標準正式發布

國際半導體產業協會(SEMI)是全球性的產業協會,致力于國際標準的制定,SEMI積極促進微電子、平面顯示器及太陽能光電等產業供應鏈的整體發展,代表著全球各地產業的呼聲和需求,是行業發展趨勢的風向標。

SEMI全球已成立了21個標準委員會及200多個工作小組為推動全球產業標準的制定貢獻力量。目前SEMI國際產業標準已有50年的發展歷史,已經制定了高達1077項、21大類的標準及安全相關準則,并廣為全球IDM廠、晶圓廠、封裝測試廠等應用。

《4H-SiC同質外延片標準》這一國際標準的發布實施,將在規范國際碳化硅半導體外延行業有序發展,降低國際貿易協作成本,加速新技術在全球的推廣等方面具有深遠的意義。

原文始發于微信公眾號(艾邦半導體網):全球首個碳化硅半導體外延晶片SEMI國際標準正式發布

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